新着論文紹介

重粒子線治療では高エネルギーのイオンを照射するため、中性子線等の二次放射線が発生します。これが電子機器に到達すると、ソフトエラーと呼ばれる誤作動を起こす事があります。医療機器の誤作動は致命的な結果につながる事もあるため、注意が必要です。本研究ではFPGAと呼ばれる電子デバイスを用いてソフトエラーの発生を定量的に測定しました。また、各種の二次放射線がどの程度ソフトエラーの発生に寄与しているか評価するため、反応確率（断面積）求めました。その結果、高エネルギー（> 10 MeV）の中性子が、主な原因と判明しました。